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Surf-Cal, standard granulometrici, volume 50 ml, premiscelato a 1x10E8 e 1x10E10 concentrazione/ml

Standard di dimensione delle particelle SURF-CAL™ utilizzati nella calibrazione delle dimensioni e nel monitoraggio dei sistemi di ispezione delle superfici di scansione (SSIS). Le dimensioni delle particelle sottostanti corrispondono alle dimensioni delle particelle di calibrazione richieste dai produttori di strumenti. È necessario completare i controlli periodici della calibrazione e il monitoraggio settimanale delle dimensioni e del conteggio per garantire che lo scanner per l'ispezione dei wafer sia confrontabile con gli scanner in altre posizioni. Tutte le microsfere di polistirene sono sospese in acqua filtrata deionizzata in un flacone da 50 ml di volume a una concentrazione di 3 × 10 E8 o 1 × 10 E10 particelle per ml. Le dimensioni indicate con * sono simili alle particelle NIST SRM a quel diametro. L'indice di rifrazione è 1.59 a 589 nm (25°C) per tutte le microsfere di polistirene sottostanti. Ogni bottiglia è stabile per 12 mesi ed è confezionata con un certificato di calibrazione e tracciabilità NIST.

Depositando sfere PSL (lattice di polistirene) tracciabili SURF-CAL, NIST su silicio nudo e wafer modello, è possibile eseguire controlli periodici di calibrazione delle dimensioni sugli strumenti KLA-Tencor, Hitachi, ADE, Topcon SSIS e confrontare lo scanner di ispezione dei wafer con gli scanner su altre località. Puoi anche valutare le prestazioni del tuo SSIS nelle fasi critiche del processo di produzione. Tutti i prodotti sono sospesi in acqua filtrata deionizzata (acqua DI) in flaconi da 50 mL a una concentrazione di 3 x10 e10 particelle/mL o 1 x10 e10 particelle/mL. Questi standard di dimensioni delle particelle Surf-Cal sono microsfere di polistirene che sono state dimensionate mediante l'analizzatore di mobilità differenziale (DMA) o altre tecniche di esclusione dimensionale.

Numero d'identificazione

Concentrazione Conta/ml

Diametro delle particelle

Distribuzione delle dimensioni

 Prezzo per Flacone da 50 ml

APPD-047 3 x 108 particelle/mL 0.047 micron 0.004μm

€ 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-047B 1 x 1010 particelle/mL 0.047 micron 0.004μm

€ 1495.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-064 3 x 108 particelle/mL 0.064 micron 0.003μm

€ 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-064B 1 x 1010 particelle/mL 0.064 micron 0.003μm

€ 1495.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-083 3 x 108 particelle/mL 0.083 micron 0.004μm

€ 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

AP PD-083B 1 x 1010 particelle/mL 0.083 micron 0.004μm

€ 1495.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-092 3 x 108 particelle/mL 0.092 micron 0.004μm

€ 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

AP PD-092B 1 x 1010 particelle/mL 0.092 micron 0.004μm

€ 1495.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-100* 3 x 108 particelle/mL 0.100 micron 0.003μm

€ 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-100B* 1 x 1010 particelle/mL 0.100 micron 0.003μm

€ 1495.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-125 3 x 108 particelle/mL 0.126 micron 0.003μm

€ 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

AP PD-125B 1 x 1010 particelle/mL 0.126 micron 0.003μm

€ 1495.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-155 3 x 108 particelle/mL 0.155 micron 0.003μm

€ 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

AP PD-155B 1 x 1010 particelle/mL 0.155 micron 0.003μm

€ 1495.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-200 3 x 108 particelle/mL 0.202 micron 0.004μm

€ 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

AP PD-200B 1 x 1010 particelle/mL 0.202 micron 0.004μm

€ 1495.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-204 3 x 108 particelle/mL 0.204 micron 0.004μm

€ 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

AP PD-204B 1 x 1010 particelle/mL 0.204 micron 0.004μm

€ 1495.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-215 3 x 108 particelle/mL 0.220 micron 0.003μm

€ 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

AP PD-215B 1 x 1010 particelle/mL 0.220 micron 0.003μm

€ 1495.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-305 3 x 108 particelle/mL 0.304 micron 0.004μm

€ 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

AP PD-305B 1 x 1010 particelle/mL 0.304 micron 0.004μm

€ 1495.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-365 3 x 108 particelle/mL 0.360 micron 0.005μm

€ 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

AP PD-365B 1 x 1010 particelle/mL 0.360 micron 0.005μm

€ 1495.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-500 3 x 108 particelle/mL 0.498 micron 0.006μm

€ 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

AP PD-500B 1 x 1010 particelle/mL 0.498 micron 0.006μm

€ 1495.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-800 3 x 108 particelle/mL 0.809 micron 0.006μm

€ 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

AP PD-800B 1 x 1010 particelle/mL 0.809 micron 0.006μm

€ 1495.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD-802 3 x 108 particelle/mL 0.802 micron 0.009μm

€ 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

AP PD-802B 1 x 1010 particelle/mL 0.802 micron 0.009μm

€ 1495.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD1100 3 x 108 particelle/mL 1.112 micron 0.011μm

€ 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD1100B 1 x 1010 particelle/mL 1.112 micron 0.011μm

€ 1495.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

APPD1600 3 x 108 particelle/mL 1.59 micron 0.016μm € 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO
APPD2000 3 x 108 particelle/mL 2.01 micron 0.019μm € 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO
APPD3000 3 x 108 particelle/mL 3.04 micron 0.026μm € 295.00   AGGIUNGI AL CARRELLO

Metodologia di misurazione:

Per garantire la tracciabilità NIST, i diametri certificati di questi prodotti sono stati trasferiti mediante microscopia elettronica a trasmissione o ottica da materiali di riferimento standard NIST (2). L'incertezza è stata calcolata utilizzando la nota tecnica NIST 1297, edizione 1994 "Linee guida per la valutazione e l'espressione dell'incertezza dei risultati delle misurazioni NIST" (4). L'incertezza elencata è l'incertezza estesa con un fattore di copertura pari a due (K=2). Il diametro del picco è stato calcolato utilizzando approssimativamente l'intervallo ± 2s della distribuzione granulometrica. La distribuzione dimensionale è stata calcolata come deviazione standard (SDS) dell'intero picco. Il coefficiente di variazione (CV) è una deviazione standard espressa come percentuale del diametro del picco. La distribuzione FWHM (full width at Half Maximum) è stata calcolata come la distribuzione a metà dell'altezza del picco espressa come percentuale del diametro del picco.

1. "The National Technology Roadmap for Semiconductors", Semiconductor Industry Association (1999)

2. SD Duke e EB Layendecker, "Metodo standard interno per la calibrazione delle dimensioni di particelle sferiche inferiori al micron mediante microscopia elettronica", Fine Particle Society (1988)

3. SEMI M52 - Guida per la specifica dei sistemi di ispezione delle superfici per i wafer di silicio 130 nm Technology Generation.

4. Barry N. Taylor e Chris E. Kuyatt, "Linee guida per valutare ed esprimere l'incertezza dei risultati delle misurazioni NIST". Nota tecnica NIST 1297, edizione 1994, settembre 1994.

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